- 通过 bh 的多维 TCSPC 技术实现 FLIM
- 以 STED 标准分辨率进行记录，分辨率低至 25 纳米
- 记录标准 bh FLIM 数据集
- 通过 SPCM 数据采集软件进行在线终生显示
- 通过SPCImage进行衰变分析
- 时间门抑制未耗尽荧光
- 集成在 Abberior STED 显微镜中
Description
受激发射损耗（STED）显微镜利用受激发射的非线性特性获得光学超分辨率。在扫描显微镜中，激发光束激发的荧光会被第二束（STED）激光束诱导的受激发射耗尽。STED 光束的波前经过处理，可获得在 x-y 平面上呈甜甜圈状或沿 z 轴方向呈哑铃状的衍射图样。在甜甜圈或哑铃的中心部分，荧光仍未耗尽。由于受激发射是高度非线性的，因此未耗尽的体积可以大大小于激发光束的点扩散函数。通过同时扫描两束光，可以获得具有光学超分辨率的图像。由于 STED 显微镜使用扫描，因此可以很容易地与TCSPC FLIM结合使用。结合系统所需的只是扫描仪的扫描时钟脉冲、像素时钟脉冲、行时钟脉冲和帧时钟脉冲。请参阅《bh TCSPC 手册》。