- 基于 TCSPC 的单分子光谱数据分析
- 利用用户定义的模型函数进行 FCS 拟合
- 参数标签数据中单分子光子脉冲串的识别
- 分析光子脉冲串内的荧光强度和寿命
- 突发参数的一维和二维直方图
- 脉冲串参数的过滤直方图
- 区分不同的荧光物种或 FRET 状态
- 确定 FRET 效率
- 排除强度轨迹中的伪影
突发分析仪需要有效的许可证密钥才能运行。
Description
bh "Burst Analyzer "软件用于单分子荧光数据分析。它使用 SPC TCSPC 模块的 FIFO 模式记录的参数标签数据文件。参数标签数据可识别穿过飞升检测体积的单分子光子脉冲串。在光子脉冲串中，可确定强度、强度变化、荧光寿命以及这些参数在路由系统的多个检测通道、多模块 TCSPC 系统的不同通道或 PIE 记录的不同时间窗口之间的比率，并计算参数的直方图。结果可用于获得 FRET 效率的直方图和时间轨迹，以及计算 FCS 和 FCCS 数据。突发分析仪将在单独的手册中介绍。
Downloads
Documents
Gallery
