参加第20 届FLIM、FRET 和代谢成像年度研讨会
该讲习班将是一个密集的讲座/实验系列，使学员能够掌握各种 FRET/FLIM/FLIRR 显微镜技术的理论和实践专业知识。学员们将与授课教师和助理密切交流，同时使用配备必要滤光片、物镜、高灵敏度检测器（PMT）和最先进的用户友好型软件的现代科研级显微镜。为期 5 天的强化课程包括上午的讲座和下午的 FRET/FLIM/FLIRR 显微镜系统实践培训。来自大学和企业的经验丰富的工作人员将提供指导。最多可招收 25 名学员，学员将有充分的机会使用各种最先进的显微镜和图像处理软件。
弗吉尼亚大学细胞成像中心（W.M. Keck Center for Cellular Imaging）将主办荧光共振能量转移（FRET）和荧光寿命成像（FLIM）高级课程。重点将放在荧光寿命氧化还原比率（FLIRR）上，这是研究线粒体 OXPHOS 和细胞糖酵解的新指标，研讨会上将对与会者进行定量分析软件包的培训。
发言人名单
A. Periasamy 博士，弗吉尼亚大学，研讨会主任
M. Barroso 博士，奥尔巴尼医学院
德国耶拿大学 M. Börsch 博士
弗吉尼亚大学化学 J. N. Demas 博士
A. Kenworthy 博士，弗吉尼亚大学 MPBP
A. Rück 博士，德国乌尔姆大学
M. Skala 博士，威斯康星大学麦迪逊分校
S. Vogel 博士，美国国立卫生研究院 NIAA
A. Walsh 博士，德克萨斯 A & M 大学 客座讲师
J. Zhang 博士，加州大学圣地亚哥分校
K. Siller 博士，弗吉尼亚大学研究计算部
麻省理工学院 P. So 博士
加州大学欧文分校 M. Digman 博士
M. Stanley 博士，Chroma Tech.
