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寿命-强度模式可提供更好的 FLIM 图像

当计数率接近 TCSPC 电子元件的倒数死区时间时,FLIM 图像像素中的光子数就会变成强度的非线性函数。因此,尽管单个像素中的衰变数据仍然正确,但图像在明亮区域的对比度会下降。为了提高高计数率下的图像质量,我们在 TCSPC 定时电子设备中并行安装了一个计数器。该计数器提供的像素光子数几乎没有计数损失。bh SPCM 软件的新 “寿命/强度 “模式通过使用来自该计数器的像素强度和来自 TCSPC 定时电子装置的像素衰减数据来建立 FLIM 图像。这些图像显示出在高计数率下对比度的大幅提高。该模式适用于 SPC-160 和新型 SPC-180 TCSPC/FLIM 模块。更多信息,请参阅应用说明

August 7, 2024

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