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Principles
FASTAC 快速采集 FLIM
目前，荧光寿命成像（FLIM）数据的采集速度越来越快。快速荧光寿命成像（FLIM）技术通常只使用几个时间窗口的时间分级，或使用时间通道宽度在 200 ps 或更长的多通道缩放器处理。与TCSPC FLIM 相比，时间分辨率（包括 IRF 宽度和时间通道宽度）要低得多，而且将多指数衰变剖面解析为其组成部分的能力也有限。然而，在典型的 FLIM 应用中，如 FRET 成像或代谢成像，这些特征恰恰非常重要。在 FRET 数据中，必须将相互作用的供体部分与非相互作用的供体部分分离开来，而代谢成像则是基于分离结合的 NADH 和游离的 NADH 的衰变成分。此外，典型的 FLIM 实验必须在荧光团浓度较低和荧光团量子效率低于理想水平的样品上进行。从这些样品中获得的光子数量有限。因此，光子效率（即一定信噪比的荧光寿命所需的光子数量）是 FLIM 技术的一个重要参数，甚至是最重要的参数。
bh FASTAC 系统可在不影响时间分辨率和光子效率的情况下实现快速 FLIM 采集。它使用一个探测器、四个并行TCSPC通道和一个将光子脉冲分配到四个记录通道的装置。该系统的电子 IRF 宽度小于 7 ps (FWHM)，时间通道宽度低至 820 fs。使用 HPM-100-06 混合探测器的光学时间分辨率小于 25 ps（FWHM）。原理如下图所示。
下图显示的是在 100 毫秒内记录的卷柏样本图像。从左到右依次为 FLIM 图像、5×5 像素区域的衰减曲线和整个图像的衰减曲线。图像和曲线由 SPCM 软件的在线显示功能创建。
由于时间分辨率高，该系统还可用于精密 FLIM 应用。下图显示了对 convallaria FASTAC FLIM 图像的双指数衰减分析。图像显示了双指数衰变的幅度加权寿命、衰变分量的幅度比以及快速和慢速衰变分量的寿命。数据记录的采集时间为 4 秒钟。FASTAC 系统与蔡司 LSM 880 NLO 双光子显微镜结合使用。
bh FASTAC 系统具有高时间分辨率、高光子效率、短时间通道宽度和解析多指数衰变剖面的能力，同样适用于快速采集和精密 FLIM 应用。
更多信息，请参阅应用说明：